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X射線光電子能譜分析法


X射線光電子能譜分析法

深圳体彩app www.aufqx.icu 利用掃描電子顯微鏡(SEM)分析,導電和非導電材料的形態,通過使用不同的探測器,SE和BSE可以同時檢測導電及不導電材料。 通過EDX分析,使檢查和量化大多數除了為氫,鋰和氦的大多數元素成為可能。掃描方式有三種類型:線性分析,現場分析和選定區域分析。

主要應用/優勢:
用掃描電子顯微鏡,它有可能獲得表面形貌,污染和組件,以及晶粒尺寸,結節和型腔,涂層厚度。尤其是映射功能,可用于識別不同階段的分布。

詳細描述:

卻系統 液氮
探測器 SE, BSE, ESED
放大倍率 30,000x
分辨率 3.0 ~ 4.5nm

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電化學掃描顯微鏡


電化學掃描顯微鏡

使用SE或BSE不同的檢測器,導電和非導電材料的形貌都可以被檢測。EDX分析:除了H,Li和He,其它元素都能被檢測并定量掃描方式:線分析,點分析和面分析獲得表面形貌,污染和成分分析,還有晶粒度,結節,空洞和涂膜厚度。映像功能可以鑒定不同界面的分布。

規格:

冷卻系統 液態氮氣
檢測器 SE, BSE, ESED
放大倍率 30,000x
分辨率 3.0 ~ 4.5nm

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數碼顯微鏡


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該顯微鏡擁有最快速的即時顯示深度構成和3D功能。包括集成了54兆像素3CCD筆式攝像機,15英寸搞清液晶顯示器和其一些設備。

主要應用/優勢:

  • 54兆像素3CCD
  • 行業中最快速的3D顯示功能
  • 行業第一,對比度最佳

  • 詳細描述:

    攝像機分辨率 百萬像素
    液晶顯示器尺寸 彩色液晶顯示器
    液晶面板尺寸 304.5(H)×228.4(V)mm
    像素 1600(H) ×1200(V)(UXGA)

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