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原子吸收光譜


原子吸收光譜

深圳体彩app www.aufqx.icu 獨創的省力且多重任務處理功能,卓越的多功能處理基本性能,具有簡易的AA安裝向導,可以滿足客戶廣泛的分析要求。

主要功能/特點:

  • 消除酸類,有機溶劑和其他化學藥物的分解
  • 超高靈敏度分析
  • 包含QA/QC功能
  • 性能參數

    光學器件 電力雙光束
    波長范圍 190 to 900 nm
    底座 色差校正閃耀式光柵底座>
    頻寬 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0, 5.0 nm
    燈的數量 燈轉臺,燈同時亮

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    輝光放電光譜儀


    電解鎳回收技術

    射頻輝光放電發射光譜法(RF-GD-AES)堀場可用于導電和非導電材料。它還可以分析表面直徑大于4mm材料,。在總共43個元素,H, O, N, C 和 Cl,,可以利用輝光放電(GD)的決定。

    主要應用/優勢:

    GD分析主要用于表面分析,散裝分析和深度剖面分析。例如,GD可用于分析鋅鎳涂層。

    詳細描述:


    資源 無線電頻率
    探測器 光學發射光譜儀
    樣品形狀 未加工, 直徑 ≥ 4mm
    檢測靈敏度 ppm (mg/L)

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    X射線衍射


    X射線衍射

    X射線衍射用X射線束通過入射光的光學,這將產生衍射和光束疊加。衍射光束進入發電機創造的X射線衍射譜。不同的材料會產生不同的結構和組件的特征衍射譜,允許保質保量的材料的定量分析。

    主要應用/優勢:
    X射線衍射的主要應用是材料結構分析,如晶體結構和晶體取向,結晶百分比和晶粒尺寸,層缺陷和結構鑒定的粉末樣品。這樣的一個例子是TiC涂層的分析。

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    XRF涂層測厚儀


    電解鎳回收技術

    該測厚儀使用靈敏的,無接觸的,非破壞性的方法測量0.05μm到70μm的金屬及非金屬材料涂膜厚度

    該測厚儀廣泛用于確定:

  • 涂層材料的厚度
  • 通過頻譜匹配確定元素類型
  • 孔洞中材料的厚度
  • 溶液中的金屬元素

  • 該測厚儀的優勢:

  • 高效的激光聚焦原理
  • 自動測量功能
  • 薄膜FP軟件(應用廣泛包括多重涂層和無鉛涂層)
  • 報告輸出軟件(通過宏增強型軟件打印出測量報告)
  • 快速,可靠,精確的測量
  • 規格:

  • 能確定至少35種類型的電鍍層,i.e. Au, Ag, Pd, Pd-Ni, Ni-B, Ni-Co, etc
  • 測量從鈦到鉍的寬頻元素
  • 瞄準儀尺寸小至0.05mm ,可以用在較小的測量區
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